Linshang LS117 光學密度儀測試網點面積鋁X光片，OD可見光穿透率取代X-rite 341C

Linshang LS117 光學密度計測試點區域鋁 X 光膠片，具有 OD 可見光透射率，可替代 X-rite 341C

簡介：

LS117 密度計是一種既能測量光學密度又能測量透光率的儀器。該儀器採用漫透射原理，適用於乳白色半透明材料和磨砂啞光材料的光學密度測試。該儀器的光源符合 CIE 明視函數，並可通過中國國家計量院的檢驗。

應用：

適用於測試鍍鋁膜、膠片、X 光膠片、鏡頭油墨等材料的光學密度。該光學密度計適用於測試乳白色半透明材料、啞光材料的透光率。

特點：

• 高解析度，寬光學密度測量範圍。該光學密度計具有寬測量範圍。光學密度值可測量至 OD 6。透射率解析度高達 0.005%；

• 同時測量透光率和光學密度。測試期間，介面同時顯示材料的透光率值和光學密度值；

• 漫透射光路設計。LS117 便攜式密度計採用漫透射光路設計，具有積分球的相同效果。在「GB / T 11500-2008 / ISO 5-2: 2001」中有相關說明。該規範規定「使用乳白色玻璃法代替積分球法作為 ISO 標準漫透射密度的基礎」；

• 兩種測量方式，使用更靈活。該光學密度計有兩種測量方法，使用更靈活。固定測量：更適合測量規則或較小的物體。手持測量：取下探頭進行測試，更適合不規則和大體積材料。

參數：

包裝：

LEO